お知らせ

2017年度第1回TEAP CBT試験のトラブル原因判明のお知らせ

2017年10月17日

平素より TEAP CBT 試験をご愛顧いただき誠に有難うございます。

さて、去る9月3日(日)に実施いたしました2017年度第1回 TEAP CBT 試験 秋葉原会場にて、不具合によって検定試験を完了できない事案が発生しました。本件について原因を究明した結果、以下の原因を特定しましたので、ここにご報告させていただきます。

原因と対策

  • 本トラブルの原因は、テストシステムに使用しているUSBメモリに格納されたデータの損傷が原因で生じたものと判明しました。
  • データの損傷は、USBメモリを使用経過年数の長いPC本体に接続したままPCを起動するという誤った手順を踏んだ場合、PC起動時に瞬間的に過電圧となることがあり、それにより生じたものです。
  • 適切なUSBメモリ接続手順の順守、USBメモリの破損データ検知プログラムによるチェック、万が一の故障に備えた十分な予備USBの確保、といった対応策を講じることで、以後、同様の事案が生じることのないよう、万全を期してまいります。

なお検定試験を完了できなかった受験者様には速やかにご連絡申し上げ、お詫びをお伝えし、ご対応させていただきましたことを、ここに併せてご報告させていただきます。

最後に、関係各位におかれましては、多大なるご心配とご迷惑をお掛け致しましたこと、改めましてお詫び申し上げます。

公益財団法人 日本英語検定協会